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熒光膜厚計

更新時間:2025-10-25

熒光膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

熒光膜厚計特點:


中文視窗操作測量系統
解析度0.001um, 小測量面積0.1mmΦ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象:1C導線架,封裝業、PCB業、精密零
件業、電鍍業、電子業。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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